E、M、X系列数据采集卡的测量特性(1——续) 06/13/2010
因为最近身体不好,实际上(1)没有写完,这里补上。 这几种数据采集卡都具备模入、模出和数字I/O,也是面对工程需要所必备的部分。对于数字I/O的不断变化实质上是IC技术的发展结果的一种必然。 M系列主要体现在多点校准技术上。 X系列主要体现在可提供4个改进式计数器的新型NI-STC3技术、100 MHz时基,以及其它针对I/O定时和触发的功能。包括现代多核技术的引用。 X系列主要体现出PCIe和PXIe高速数据传递。 同时X系列本身还推出了同步采集卡,而在过去同步功能依赖于S系列及特殊采集卡。 X系列需要DAQmx9.0以上的版本。 就数字I/O特性而言: E系列有最经济的数字I/O特性(将被M系列取代)。 M系列有最实用的数字I/O特性(PCI、PCIe、PXI、PXIe)。 X系列有最好的数字I/O特性(PCIe、PXIe)。 CommentsLeave a Reply | 写着玩! 外行当然说的就是我自己,内行是指NI的那些AE,因为他们更清楚LV的内涵和机理。就LV学习和使用而言,我的确就是个外行。但是,我想通过“看热闹”使自己尽可能的接近于内行。这肯定是一个可望而又不可及的目标。 历史纪录十一月 2011 分类
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